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ASAP 2020 PLUS 全自動靜態(tài)化學吸附儀用于測量粉末和多孔材料的表面積、孔徑和孔容，應用范圍，使其兼具物理和化學吸附功能，可表征催化劑、催化劑載體、傳感器等和材料的紋理和活性表面，可同時制備兩個樣品、分析一個樣品，能夠提供高質(zhì)量的比表面 -
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TriStar II Puls 全自動比表面積與孔隙度分析儀直接處理吸附數(shù)據(jù)，通過簡單的移動計算條，一鍵式訪問重要的參數(shù)，允許用戶自定義多達五份報告，可在屏幕上預覽，在一個易于使用的應用程 -
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Gemini VII 2390 比表面積分析儀具備了測量完整的吸附-脫附等溫線，以及使用多達 1000 個數(shù)據(jù)點通過 BJH 或 DH 法測量孔徑分布的功能，系統(tǒng)能夠在分析過程中持續(xù)監(jiān)測吸附劑的飽和壓力 -
TriStar II 3030 炭黑比表面積分析儀用于高精度的氣體管理，能夠在碳微孔分析中同時利用CO2與N2兩個等溫線通過NLDFT理論來計算全范圍孔徑，交互式數(shù)據(jù)處理減少使用對話框和達到計算參數(shù)的路徑
