光學(xué)掃描三坐標(biāo)又稱3D掃描儀，可以完成大型工件的掃描測量工作，逆向分析。可以實現(xiàn)無損檢測，特別是對于大型工件的測量有著獨到的優(yōu)勢，在飛機、汽車、船舶等行業(yè)有著廣泛的應(yīng)用。
光學(xué)掃描三坐標(biāo)的閉線掃描方式允許掃描內(nèi)表面或外表面，它只需“起點”和“方向點”兩個值（PC DMIS程序?qū)⑵瘘c也作為終點）：
1.數(shù)據(jù)輸入操作
雙擊邊界點“1”，在編輯對話框中輸入位置；雙擊方向點“D”，輸入坐標(biāo)值；選擇掃描類型（“線性”或“變量”），輸入步長，定義觸測類型（“矢量”、“表面”或“邊緣”）；雙擊“初始矢量”，輸入第“1”點的矢量，檢查截面矢量；鍵入其它選項后，點擊“創(chuàng)建”。
也可使用光學(xué)掃描三坐標(biāo)操作盤觸測被測工件表面的頭一個測點，然后觸測方向點，PC DMIS程序?qū)褱y量值自動放入對話框，并自動計算初始矢量。選擇掃描控制方式、測點類型及其它選項后，點擊“創(chuàng)建”。
2.有CAD模型的閉線掃描
如被測工件有CAD模型，測量前確認“閉線掃描”；首先點擊表面起始點，在CAD模型上生成符號“1”（點擊時表面和邊界點被加亮，以便選擇正確的表面）；然后點擊掃描方向點；PC DMIS將在對話框中給出所選位置點相應(yīng)的坐標(biāo)及矢量；選擇掃描控制方式、步長及其它選項后，點擊“創(chuàng)建”。
